【ZiDongHua 之会展赛培坛收录关键词： 半导体 物理器件 纳米材料 放大器】

预告 | 与NI相约第十九届全国半导体与集成技术会议

第十九届全国半导体与集成技术会议汇聚国内半导体领域的精英与专家，旨在推动学术与产业的深度融合，促进技术创新与发展。会议将围绕半导体材料、器件、集成电路等展开研讨，分享前沿成果，并提供产学研交流平台。活动包括大会报告、8场专题讨论及青年学者沙龙，聚焦国产半导体设备推广，推动我国半导体产业升级。NI诚邀全国科研人员、制造研发人员及企业界人士参会。

时间：2024年8月24至25日

地点：南京市白金汉爵大酒店（江苏省南京市栖霞区尧化街道智谷大道1号）

NI展位：会议室201，展位号4

 

 

使用NI PXI加速半导体物理器件科研

 

随着半导体技术的不断进步，研究人员致力于探索新型半导体材料和器件，包括二维材料、铁电材料和纳米材料等，以满足日益增长的大规模，高性能和低功耗的需求， 并适应不断涌现的多样化应用场景。这种趋势也对测试测量设备的精度，通道数以及灵活性提出了新的要求。

NI作为测试测量行业的领导者，一直致力于为高校和研究机构提供开放、高效、柔性、 通道数可拓展的综合创新型平台，助力中国半导体物理器件向更高精度，更复杂以及更大规模的方向迈进。

创新展品集结亮相忆阻器阵列测试Demo (含超快脉冲测试)


NI忆阻器阵列解决方案拥有可开箱即用的标准测试程序涵盖了IV特性、脉冲特性、时频响应、重复擦写、阻变窗口和逻辑运算等测试。同时，NI推出了超短脉冲测试，利用NI的任意波形生成器发出幅值和持续时间均可调的超短周期脉冲，这有助于对忆阻器施加快速成形电流、SET和RESET电压，探索高速存储与计算的可能性。

 

半导体参数分析Demo
NI基于强大的PXI模块化系统构建了一个功能强大且灵活的半导体参数测试系统。这个系统实现了电流电压(IV)测试、电容电压(CV)测试、脉冲式IV测试、电感电容阻抗LCR测试，1/f噪声测试，高速任意波形发生、高速数字化仪釆集，非常适合各种半导体器件如MOSFET的详细分析。

此外，它也能够用于光电器件、特殊材料如压电陶瓷、LED材料、二维材料器件、金属材料、新型先进材料与器件的测试。凭借模块化设计，系统可以根据需求轻松升级，适应未来的测试需求，从而显著提升材料和工艺开发的效率。


高频锁相放大器Demo
NI锁向放大器采用NI灵活开放的模块化PXI平台，基于NI FlexRIO 和LabVIEW FPGA实现锁相放大器。NI LIA可实现直流至3.2GHz的锁相放大器，低输入噪声，高动态范围，高带宽，模块化，灵活可编程，同时兼具示波器、任意波形发生器和频谱测量的功能。