TriQuint Semiconductor使用NI PXI和LabVIEW缩短射频功率放大器的特征化时间

　　我们使用NI PXI和LabVIEW减小特征化系统的尺寸、成本和功率消耗，并缩短总特征化时间。

　　Gary Shipley - TriQuint Semiconductor

　　ATE/仪器, RF/Communications, 半导体

　　TestStand, LabVIEW, PXI-4071, PXIe-5442, PXI-5690, NI PXIe-5673, NI PXIe-5122, PXI-2596, PXIe-5663, NI PXI-4110

　　在不牺牲测量精度或提高设备成本的情况下，缩短对日益复杂的无线功率放大器(PA)的特征化时间。

　　解决方案:

　　使用NI LabVIEW软件和NI PXI模块化仪器开发功率放大器特征化系统，让我们在减小资产设备成本、功率消耗和物理空间的同时，将测试吞吐量提高了10倍。

　　"我们使用NI PXI，能够将新组件的特征化时间从两周缩短为大约一天。"

　　关于TriQuint Semiconductor

　　TriQuint是一个高性能射频解决方案的领导者，其产品涉及复杂移动设备、国防与航天应用以及网络基础设施等方面。现在，TriQuint通过使用GaAs、GaN、SAW和BAW技术为世界各地的组织提供创新的解决方案。工程师和科学家借助TriQuint的创新提高了产品的性能，并降低了其应用的总成本。

　　现有功率放大器特征化技术的挑战

　　尽管无线射频功率放大器主要被设计在单频带单模式下工作，现代的功率放大器要满足更为多样化的需求。实际上，现代功率放大器的设计可以工作在八个或更多频带下，并且能够用于包括GSM、EDGE、WCDMA、HSPA+、LTE等多种调制类型。

　　在TriQuint Semiconductor，我们需要在多种频率、电压电平、温度和功率范围下测试日益复杂的组件。一个典型组件完整的特征化过程需要大约30,000到40,000行数据对设计进行完全测试。使用传统的机架射频测试设备，每行数据大约需要10秒收集，这样每个独立组件需要超过110小时进行测试。

　　设计替代的PXI测试系统

　　为解决缩短射频组件特征化测试时间的挑战，我们基于NI PXI、LabVIEW和NITestStand，开发了功率放大器特征化测试系统。我们的功率放大器测试台包含以下仪器：

　　· NI PXIe-5673 6.6 GHz矢量信号发生器

　　· NI PXIe-5663 6.6 GHz矢量信号分析仪

　　· NI PXI-5691 8 GHz可编程射频放大器

　　· NI PXIe-5122 100 MS/s高速数字化仪

　　· NI PXI-4110可编程电源

　　· NI PXI-4130功率源测量单元