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东芝进一步扩展Thermoflagger™产品线---检测电子设备温升的简单解决方案
中国上海,2023年9月14日——东芝电子元件及存储装置株式会社(“东芝”)今日宣布,进一步扩展ThermoflaggerTM过温检测IC产品线---“TCTH0xxxE系列”。该系列可用于具有正温度系数(PTC)热敏电阻的简单电路中,用来检测电子设备中的温度升高,六款新产品于今日开始支持批量出货。
为了使电子设备按规定运行,半导体和其他电子元件必须在设计参数范围内工作。内部温度是一个关键参数,特别是当它高于设计流程中的假设温度时,它就可能成为安全性和可靠性方面的一个主要问题,因此需要过温监测解决方案来检测任何温度升高。
当配置在具有PTC热敏电阻(其电阻值随温度变化而变化)的简单电路中时,ThermoflaggerTM过温检测IC不仅可以检测温度升高,还可以检测置于热源附近的PTC热敏电阻的电阻变化,并在温度过高时输出FLAG信号。例如,当ThermoflaggerTM检测到异常发热情况并向MCU发送FLAG信号时,MCU将关闭设备或改变正在产热的设备或半导体的运行方式。通过串联PTC热敏电阻可同时在多个点进行过温检测。
这六款新产品分别是:TCTH011AE、TCTH012AE、TCTH021AE、TCTH022AE、TCTH011BE和TCTH012BE。上述产品加上已经发布的TCTH021BE和TCTH022BE,进一步扩展了TCTH0xxxE系列产品线,使该产品线增加至8款产品。通过提供对两种类型的PTCO输出电流[1]的支持,新产品扩大了PTC热敏电阻的可选范围,既可选择推挽型或开漏型FLAG信号输出类型[2],也可选择使用或不使用FLAG信号锁存功能[3]。扩大产品选择范围,可以实现低电流消耗的灵活电路设计。
新产品采用小型,符合行业标准SOT–553封装(东芝的封装名称为:ESV),确保TCTH0xxxE系列支持用户为成套电子设备轻松配置过温检测系统,并助力实现尺寸和功耗的双重改善。
除了已经发布的参考设计过温检测IC ThermoflaggerTM的应用电路(TCTH021BE/开漏型)之外,东芝在其官网上又发布了新版参考设计:过温检测IC ThermoflaggerTM应用电路(TCTH021AE/推挽型)。
东芝使用村田制作所(以下简称“村田”)提供的PTC热敏电阻的相关技术信息来实现过温检测解决方案。村田建议将ThermoflaggerTM与PTC热敏电阻结合使用。
村田的推荐IC列表
未来,东芝将继续扩展其产品线,推出采用各种封装、器件特性不断完善的产品,助力提高设计灵活性并实现碳中和目标。
开漏分配中FLAG信号输出的操作示例
应用:
-移动设备(笔记本电脑等)
-家用电器
-工业设备等
特性:
-配置简单,可与PTC[1]热敏电阻结合使用
-通过串联PTC[1]热敏电阻,可同时在多个点进行过温监测。
-低电流消耗:
IDD=1.8μA(典型值)(TCTH011AE、TCTH012AE、TCTH011BE、TCTH012BE)IDD=11.3μA(典型值)(TCTH021AE、TCTH022AE)-小型标准封装:SOT–553(ESV)
-扩大了PTC[1]热敏电阻的选择范围,具有两种类型的PTCO输出电流:
IPTCO=1.00μA(典型值)(TCTH011AE、TCTH012AE、TCTH011BE、TCTH012BE)IPTCO=10.0μA(典型值)(TCTH021AE、TCTH022AE)-高PTCO输出电流精度:±8%
-FLAG信号输出(PTCGOOD)可选择推挽型和开漏型-可选择FLAG信号锁存功能
主要规格:
注:
[1] PTCO输出电流:由过温检测IC提供给PTC热敏电阻的恒定电流。
[2] 当过温检测IC检测到错误时,就会输出FLAG信号。推挽型由两个垂直堆叠的MOSFET组成。输出电流以任一方向流入和流出。开漏型由一个MOSFET组成。输出电流只向一个方向流动。
[3] FLAG信号锁存功能在过温检测IC检测到错误(即使只有一次)后保持FLAG信号。过温检测IC不能自行恢复;需要通过从MCU等将信号输入到RESET引脚来恢复。
关于东芝电子元件及存储装置株式会社
东芝电子元件及存储装置株式会社是先进的半导体和存储解决方案的领先供应商,公司累积了半个多世纪的经验和创新,为客户和合作伙伴提供分立半导体、系统LSI和HDD领域的杰出解决方案。
公司22,200名员工遍布世界各地,致力于实现产品价值的最大化,东芝电子元件及存储装置株式会社十分注重与客户的密切协作,旨在促进价值共创,共同开拓新市场,公司现已拥有超过8,598亿日元(62亿美元)的年销售额,期待为世界各地的人们建设更美好的未来并做出贡献。
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