全新NI PXI开关为规模化测试延长射频测试系统寿命并提高速度
来源：网络 2012-8-24 关键词：工业自动化 PXI开关 射频测试 NI PXI/PXIe-2543固态开关模块能够以更加快速的开关以及无限的机械寿命周期，对高达6.6 GHz的射频信号进行路由。 对于许多规模化的生产测试应用，包括半导体和移动终端测试，新的射频开关不但增加了测试吞吐量且保证了长期的测量可重复性。 开关模块进一步扩大了NI PXI模块化仪器的
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