AMC2103 边缘扫描控制器模块是满足IEEE Std1149.1和IEEE Std1149.5标准的边缘扫描控制器，主要针对超大规模集成电路的日益复杂和管脚间距的日趋减小以及印制板层数的不断增加和密度的加大而用虚拟探针代替物理探针进行芯片管脚一级、板级网络连接和系统级的检测，以提高产品整个生命周期的可测性和可维护性，产品研制过程中DFT和BIST要求。配合上位机中的自动测试向量生成、测试代码转换、测试运行及测试驱动等软件而勿需使用其它昂贵、复杂设备便可对被测板进行扫描链完整性测试、扫描链中器件安装的正确性和完好性检测、印制板中焊点的完好性检测以及印制板中网线是否有短路、断路、桥接等故障的检测和故障的隔离。　　使用AMC2103模块可对多板的机箱一级和多机箱的系统级进行边缘扫描测试，自动测试向量生成及运行软件可根据印制板网表和可测试性器件的BSDL语言描述及五种算法得到最佳测试向量，使测试达到完备性和紧凑性指标。