光谱相机
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- 沈阳自动化所科研团队提出多层复合玻璃厚度高精度测量新方法
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近日，中国科学院沈阳自动化研究所科研团队针对多层复合玻璃厚度测量，提出了一种基于正交色散的大量程高精度谱域光学低相干测量方法。
2024-03-07 16:13:33
